ANSI/ASTM D792-1991 采用置换法对塑料的密度和比重(相对密度)的试验方法
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【英文标准名称】:TestMethodsforDensityandSpecificGravity(RelativeDensity)ofPlasticsbyDisplacement(08.01)
【原文标准名称】:采用置换法对塑料的密度和比重(相对密度)的试验方法
【标准号】:ANSI/ASTMD792-1991
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1991
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:比率的;密度;塑料
【英文主题词】:plastics;density;specific
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:83_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Electrostatics-Part5-1:Protectionofelectronicdevicesfromelectrostaticphenomena-Generalrequirements(IEC61340-5-1:2007);GermanversionEN61340-5-1:2007
【原文标准名称】:静电学.第5-1部分:电子装置对静电现象的防护.一般要求
【标准号】:EN61340-5-1-2007
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2008-07
【实施或试行日期】:2008-07-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;放电;接地;电气工程;电气安全;电子设备及元件;电子仪器;电子装置;电子工业;静电的;静电充电;静电放电;静电学;检验(质量保证);危害;作标记;测量技术;包装件;防电击;防护区域;防护服装;保护措施;安全措施;半导体器件;规范(验收);监督(认可);培训;警告标志;工作场所布置;工作地点
【英文主题词】:Definition;Definitions;Discharge;Earthing;Electricalengineering;Electricalsafety;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Electronically-operateddevices;Electronicsindustry;Electrostatic;Electrostaticchargings;Electrostaticdischarges;Electrostatics;Examination(qualityassurance);Hazards;Marking;Measuringtechniques;Packages;Protectionagainstelectricshocks;Protectiveareas;Protectiveclothing;Protectivemeasures;Safetymeasures;Semiconductordevices;Specification(approval);Surveillance(approval);Training;Warningsigns;Workplacelayout;Workingplaces
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:17_220_20;31_020
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-General
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.总则
【标准号】:BSEN60749-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-07-07
【实施或试行日期】:2003-07-07
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;外观检查(试验);环境试验;环境;气候;大气压;半导体;集成电路;尺寸;潮气;电学测量;气候试验;半导体器件;温度变化;试验;电子工程;温度;电气工程;电子设备及元件;机械试验;易燃性;耐力
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentalcondition;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Properties;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits)andestablishesprovisionscommontoalltheotherpartsoftheseries.Inthecaseofcontradictionbetweenthisstandardandarelevantprocurementspecification,thelattershouldgovern.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语
